美国SpecMetrix涂层测厚系统

2025-03-12 13:43:37 作者:sjstmat 来源: 浏览次数:0 网友评论 0

SpecMetrix®系统是由Sensory Analytics公司开发的先进测量系统,能够实时监测和测量涂层厚度和颜色。该系统采用非接触式ROI(增强光学干涉)技术,提供高精度测量结果,适用于多种材料和行业。

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